Κατασκευαστής:

Φασματογράφος μάζας X-Strata920 από την Hitachi High-tech για την ανίχνευση στοιχείων του πάχους επικάλυψης μετάλλων.

O Σταθερός Φασματογράφος XRF X-Strata920, είναι κατάληλος για γρήγορη και ακριβή ανίχνευση των στοιχείων του πάχους επικάλυψης.

Ο Σταθερός Φασματογράφος XRF X-Strata920 είναι ιδανικός για:
•  Ταυτοποίηση υλικού
• Μέτρηση πάχους επικάλυψης μέχρι και 5 επιστρώσεων (4 στρώματα επικαλύψεων και ένα βασικό υπόστρωμα)
• Περιλαμβάνει τις βασικές απαραίτητες βαθμονομήσεις για την ανίχνευση στοιχείων σε πολύτιμα μέταλλα (όπως χρυσός και παλλάδιο)